特点
配备0～+5V的模拟电压输出、4～20mA的模拟电流输出※2
用测距传感器规定测定值
・ 直线性：±0.1％F.S.※1
・ 温度特性：0.03％F.S./℃
※1 : HG-C1030／HG-C1050／HG-C1100的情况
| 不仅能以mm为单位显示数值，还能读取模拟输出数值。读入到PLC＋模拟量单元，还能执行各种运算，并存储(记录)测量值。 |
<紧凑>
形状达到业内小型级别※的CMOS激光传感器 （※2015年5月，根据本公司调查）
设计出内部安装有镜面的新型光学系统
一般通过延长受光部分与受光元件(CMOS)之间的光路长度，从而可获得精度更高、更稳定的测量值，但是另一方面，传感器的进深方向会变长，机身形状也会变大。HG-C系列设计出内部安装有反射镜的新型光学系统，并缩短进深方向的尺寸，同时又可实现与变位传感器相媲美的高精度测量。 |
采用铝铸外壳，使机身免受变形和温度的困扰
采用同时兼顾轻量与强度的铝铸外壳。虽然尺寸小巧，但是机身坚固，从而减少外壳变形和温度等不稳定因素对测量精度所产生的影响。
<占绝对优势的稳定检测>
实现1/100ｍｍ的高精度检测※
※HG-C1030(-P)的情况
| 采用高精度CMOS传感器&独特的算法采用位移传感器所使用的高精度CMOS影像传感器，以及位移传感器一直使用的本公司独特的算法，使距离设定反射型传感器实现前所未有的高精度（1/100mm）。 |
配备便利的功能
教导&窗口比较模式
存在检测物体的状态下，只需按下 “TEACH”键，即可简单地设定基准值。
另外，在2个基准值范围内即判为OK，超出范围即判为NG，1个输出即可做出判定。
针对与检测物体基准面之间的距离，设置上限值和下限值，想要通过上下限的范围 进行判别时，使用该方式。
微晶石平整度检测新利器[HG-C1050L]
陶瓷行业特别推荐
专用方式，有效区分表层(透明)与底层(非透明)平面，准确测量表层的平整度。
搭载CMOS，高精度&小尺寸兼顾
继承HG-C1000搭载高精度CMOS及小尺寸的特性，在此基础上追加微晶石检测专用方式，实现光泽表面的精准检测。
双重模拟输出可切换
配备模拟电流4mA～20mA输出，模拟电压0V～5V输出，两种输出方式可切换，用户按需选择。(默认：模拟电流输出)
